姓名：喻文健
职称：教授
教育背景
工学学士 (计算机科学与技术), 清华大学, 中国, 1999
工学硕士 (计算机科学与技术), 清华大学, 中国, 2001
工学博士 (计算机软件与理论), 清华大学, 中国, 2003
社会兼职
《计算机辅助设计与图形学学报》: 编委 (2010-2012)
ASP-DAC 2005, 2007, 2008: 程序委员会委员 (2005-2008)
SLIP 2009: 程序委员会委员 (2009)
研究领域
集成电路与系统的计算机辅助设计
数值算法与软件
研究概况
自1999年开始，我一直从事超大规模集成电路互连寄生参数提取的算法研究与软件开发。2004年至2007年，面向硅基数模混合电路和射频电路的设计，我着重研究了基于边界元法的衬底耦合参数提取和高频阻抗提取算法。2005年至2008年，我多次访问美国加州大学圣地亚哥分校（UCSD），在互连分析与电路仿真方面开展了合作研究。我的主要学术贡献有：
1. 发展、提出了基于直接边界元法的三维电容提取快速算法。我主持开发的两个软件原型——QBEM和HBBEM（与王泽毅教授一起）——作为电容求解引擎，已被美国ICScape、日本JEDAT等公司嵌入面向超大规模集成电路设计和液晶平面显示器设计的商业软件中。HBBEM的核心算法被IBM Watson研究中心采用并用于开发IBM的首要三维互连电容求解器软件CSurf。
2. 提出了多项基于VLSI新工艺特点的互连电容、电阻提取算法，用于处理悬浮金属哑元、多通孔等复杂结构以及片内随机工艺变动。我在该方向的论文发表于期刊IEEE Trans. Computer-Aided Design、IEICE Trans. Electronics和会议DATE 2008、DAC 2009中，获得学术界和工业界的关注。
3. 针对数模混合和射频芯片的衬底耦合问题，提出了适应性强、计算效率高的衬底电阻提取算法和频变参数提取算法。我在该方向的论文发表于期刊IEEE Trans. Computer-Aided Design中。
4. 提出了基于阶跃响应的互连信号眼图（eye-diagram）预测算法，并与UCSD的合作者一起提出了用于片外互连的无源均衡电路设计优化算法，发展了基于频域分析的大规模互连电路瞬态仿真算法。我在该方向的论文发表于期刊IEEE Trans. Computer-Aided Design、IEICE Trans. Electronics和国际会议DAC 2008、ICCAD 2008中。
在集成电路建模与仿真、尤其是寄生参数提取领域，我是国际上一位比较活跃的研究者，多次被邀请担任国际会议程序委员会委员，并为本领域最重要的国际期刊审稿。
研究课题
国家自然科学基金面上课题: 有耗衬底电磁参数的边界元提取算法研究 (2005-2008)
国家自然科学基金面上课题: VLSI芯片级完整耦合互连寄生参数提取算法研究 (2005-2008)
清华大学信息学院基础研究基金课题: 45 纳米及其后CMOS 技术代互连分析与算法研究 (2006-2008)
国家科技重大专项“十一五”课题: 先进EDA工具平台开发（清华大学部分） (2008-2010)
奖励与荣誉
教育部自然科学二等奖: 超大规模集成电路物理级优化和验证问题基础研究 (2005)
全国百篇优秀博士论文提名 (2005)
